जब गुणवत्ता निरीक्षण या असेंबली तकनीशियन एक मानक हैंडहेल्ड डिजिटल मल्टीमीटर का उपयोग करके आने वाले मल्टीलेयर सिरेमिक कैपेसिटर (एमएलसीसी) का परीक्षण करते हैं, तो उन्हें अक्सर एक निराशाजनक विसंगति का सामना करना पड़ता है: मापा कैपेसिटेंस निर्माता की डेटाशीट पर बताए गए नाममात्र मूल्य से काफी कम है। यह भिन्नता शायद ही कभी किसी दोषपूर्ण घटक को इंगित करती है; बल्कि, यह विशिष्ट परीक्षण स्थितियों पर सिरेमिक कैपेसिटर की सख्त निर्भरता पर प्रकाश डालता है।

www.barronmlcc.com के माध्यम से घटकों की सोर्सिंग करने वाले हार्डवेयर इंजीनियरों और आने वाली गुणवत्ता नियंत्रण (आईक्यूसी) टीमों के लिए, गलत घटक अस्वीकृति को रोकने के लिए यह समझना आवश्यक है कि माप पैरामीटर कैपेसिटेंस रीडिंग को कैसे बदलते हैं।

टेस्ट वोल्टेज और फ़्रीक्वेंसी पैरामीटर्स की भूमिका

धारिता कोई निश्चित निरपेक्ष संख्या नहीं है; यह माप के दौरान लागू विद्युत उत्तेजना के आधार पर गतिशील रूप से बदलता है। डेटाशीट मान सामान्य हैंडहेल्ड मीटर के बजाय विशेष एलसीआर मीटर का उपयोग करके सख्त अंतरराष्ट्रीय मानकों के तहत स्थापित किए जाते हैं।

• AC मापने वाला वोल्टेज परिमाण: कक्षा 2 ढांकता हुआ फॉर्मूलेशन (जैसे X7R और X5R) वोल्टेज-संवेदनशील हैं। मानक LCR मीटर बहुत छोटे, नियंत्रित AC सिग्नल (आमतौर पर उच्च-क्षमता वाले भागों के लिए 1 kHz पर 0.5 Vrms या 1.0 Vrms) का उपयोग करके घटकों का परीक्षण करते हैं। हैंडहेल्ड मल्टीमीटर अक्सर मनमाने ढंग से, अनियमित परीक्षण सिग्नल लागू करते हैं जो फेरोइलेक्ट्रिक क्रिस्टल जाली को पूरी तरह से ध्रुवीकृत करने में विफल होते हैं, जिसके परिणामस्वरूप कृत्रिम रूप से कैपेसिटेंस रीडिंग को दबा दिया जाता है।
• आवृत्ति प्रतिक्रिया विचलन: गलत आवृत्ति पर संधारित्र को मापने से परिणाम विकृत हो जाते हैं। उच्च-मूल्य वाले कैपेसिटर का परीक्षण आमतौर पर 1 किलोहर्ट्ज़ पर किया जाता है, जबकि कम-मूल्य वाले आरएफ कैपेसिटर (जैसे C0G) का मूल्यांकन अक्सर 1 मेगाहर्ट्ज पर किया जाता है। इन निर्दिष्ट आवृत्तियों के बाहर परीक्षण माप को परजीवी प्रेरक या गुंजयमान क्षेत्रों में धकेलता है।

थर्मल रीसेट और एजिंग प्री-कंडीशनिंग फैक्टर

क्योंकि क्लास 2 सिरेमिक सामग्रियां समय-आधारित उम्र बढ़ने (दशकों के घंटों में धीरे-धीरे क्षमता खोने) को प्रदर्शित करती हैं, जो घटक महीनों तक गोदाम के स्टॉक में पड़े रहते हैं, वे ताजा निर्मित भागों की तुलना में कम रीडिंग दिखाएंगे। इसके अलावा, जब तक किसी घटक को थर्मल रूप से डी-एज नहीं किया जाता है (इसके क्यूरी बिंदु से लगभग 150 डिग्री सेल्सियस के ऊपर गर्म किया जाता है और 24 घंटों के लिए कमरे के तापमान पर स्थिर करने की अनुमति दी जाती है), बेसलाइन माप फैक्ट्री-ताजा मापदंडों के बजाय इसके संचित उम्र बढ़ने के इतिहास को प्रतिबिंबित करेगा।

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सटीक आने वाले निरीक्षण के लिए निर्माता डेटाशीट शर्तों के साथ आंतरिक परीक्षण प्रक्रियाओं को संरेखित करने की आवश्यकता होती है। सटीक वोल्टेज और आवृत्ति नियंत्रण के साथ कैलिब्रेटेड एलसीआर मीटर का उपयोग झूठी विफलताओं को समाप्त करता है और घटक अनुपालन सुनिश्चित करता है।

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